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產品詳細頁

科研級微分干涉顯微鏡

簡要描述:科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。總放大倍數:50-800X

  • 產品型號:WYJ-4XDIC
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2021-08-15
  • 訪  問  量:1337

產品介紹

產品概述:

科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC采用優良的無限遠光學系統與多功能、模塊化的設計理念,帶有偏光裝置、微分干涉裝置,可實現偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體,充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計,使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業、硅片制造業、電子信息產業等觀察研究的理想儀器。總放大倍數:50-800X

◆產品特點:
1、采用了先進的無限遠光路設計,提供了好的光學系統。
2、采用大視野目鏡和無限遠長距平場物鏡,視場平坦,成像清晰。
3、整機采用了防霉處理,保護了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。
4、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
◆典型應用:
1、電子工業制造業對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗,
2、TFT液晶顯示屏導電粒子, 3、分析金屬、礦相內部結構組織。

科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC規格參數:

一、顯微鏡參數:

序號

名稱

技術參數

01

平場目鏡

WF10X/φ22mm

02

平場物鏡

無限遠長距PLL 5X/0.10DIC、10X/0.25DIC、20X/0.40DIC、40X/0.60、80X/0.75

03

總放大倍數

50X-800X

04

觀察頭

雙目,鉸鏈式45°傾斜

05

轉換器

五孔(內向式滾珠內定位)

06

粗調調焦范圍

粗微動同軸調焦,帶鎖緊裝置,微動格值:2μm

07

載物臺

機械移動載物臺,外形尺寸:242mmX200mm,移動范圍30mmX30mm
圓形可旋轉載物臺板尺寸:最大外徑φ130mm,最小通光口徑小于φ12mm

08

光瞳距離

53-75mm

09

濾色片

磨砂玻璃、黃、綠、藍濾色片

10

照明裝置

12V50W鹵素燈,亮度可調內置視場光闌、孔徑光闌

11

偏光裝置

拉板式起偏器,檢偏器 微分干涉相襯插板適用于5X.10,20X DIC 物鏡

12

儀器重量

凈重7.0kg 毛重8.5kg

13

儀器尺寸

儀器尺寸18X25X33(cm)  包裝尺寸42X35X52(cm)

二、目鏡參數:

型號
T ype

放大倍率
Magnification

視場直徑(mm)
F.O.V

外徑(mm)
Tube diameter

WF10X/22

10X

φ22

φ30.0

三、物鏡參數:

放大倍率 Magnification

數值孔徑 N.A

分辨率 R(μm)

工作距離WD(mm)

共軛距離Conjugate(mm)

齊焦距離Parfocus(mm)

蓋玻片厚度CoverGlass(mm)

5XDIC

0.12

2.55

18.2

45

10XDIC

0.25

1.10

20.2

45

20XDIC

0.40

0.70

6.00

45

40X

0.60

0.55

3.98

45

80X

0.80

0.42

1.25

45

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